【檢測內容介紹】

 高低溫循環測試(又名高低溫循環試驗、高低溫試驗等)主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。檢測試驗找儀綜所實驗室彭光瓊V136-9109-3503.

  高低溫循環測試是指設定溫度從-50°C保持4個小時后，升溫到 +90°C ，然后，在+90°保持4個小時，降溫到-50°C，依次做N個循環。

  工業級溫度標準為-40°C ~ +85°C，因為溫箱通常會存在溫差，為保證到客戶端不會因為溫度偏差導致測試結果不一致，內部測試建議使用標準溫度±5°C溫差來測試。

測試流程：

  1、在樣品斷電的狀態下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態下，芯片本身就會產生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其"凍透"，再次通電進行測試。

  2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。

  3、進行老化測試，觀察是否有數據對比錯誤。

  4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態，4個小時后，執行2、3、4測試步驟。

  5、高溫和低溫測試分別重復10次。

  如果測試過程出現任何一次不能正常工作的狀態，則視為測試失敗。

  參考標準

GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法

 北京儀綜所高低溫環境實驗室提供一站式檢驗檢測托管式檢測服務，出具國家認可的第三方檢測報告。

更新時間：2026/3/2 13:23:36